金融界2025年6月14日消息，国家知识产权局信息显示，热电科学仪器有限责任公司申请一项名为“用于测定在光学侦讯技术中施加到样品上的力的方法和装置”的专利，公开号CN120142249A，申请日期为2022年07月。

专利摘要显示，一种用于检查样品的光学测量系统测量系统。所述测量系统包括内部反射元件、载物台、光学组件、底座和传感器。所述内部反射元件具有接触表面。所述载物台位于所述内部反射元件下方。所述载物台和所述内部反射元件被配置为向所述样品施加力。所述光学组件包括光源和光检测器。所述光学组件被配置为通过将来自所述光源的源光引导向所述接触表面并通过所述光检测器检测与所述接触表面光学相互作用的源光来扫描所述样品。所述底座被配置为支撑所述光学组件和所述内部反射元件。所述传感器安装在所述底座上，并被配置为检测由所述内部反射元件和所述载物台施加到所述样品上的力。

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